Elektronska mikroskopija

Elektronski mikroskopi koriste snop ubrzanih elektrona za generisanje slike, pri čemu elektroni imaju znatno manju talasnu dužinu od vidljive i UV svetlosti koja se koristi kod optičkih svetlosnih mikroskopa. Sama priroda elektrona omogućava veće uveličanje i bolju rezoluciju. Elektronski mikroskopi se dele na dve kategorije, a to su transmisioni elektronski mikroskopi (TEM) i skenirajući elektronski mikroskopi (SEM). Svojom moćnom rezolucijom i mogućnošću uveličanja našli su primenu u karakterizaciji materijala, proizvodnji poluprovodnika, biološkim i medicinskim istraživanjima. Skenirajući elektronski mikroskopi (SEM) omogućavaju najraznovrsnije ispitivanje i analizu mikrostrukturalnih karakteristika čvrstih objekata. SEM-om možemo snimiti sliku visoke rezolucije za uzorak velike zapremine. Važna karakteristika SEM-a je dubina slike koja nam daje trodimenzionalni izgled uzorka. Zahvaljujući mogućnosti posmatranja i karakterizacije heterogenih organskih i neorganskih materijala na mikrometarskoj i nanometarskoj skali, SEM je postao ključan instument u brojnim istraživačkim oblastima, koje obuhvataju sve od nauke o materijalima, preko forenzike, industrijske proizvodnje, do bioloških i medicinskih istraživanja. Transmisiona elektronska mikroskopija (TEM) je tehnika snimanja slike visoke rezolucije u kojoj snop elektrona prolazi kroz tanak uzorak da bi se generisala slika. Na elektronski snop utiču debljina i gustina uzorka, njegov sastav i u nekim slučajevima kristalnost. Transmisioni elektronski mikroskop (TEM) predstavllja idealno sredstvo za analizu sastava i strukture na atomskoj skali. Daje nam slike uzoraka i njihovih defekata u atomskoj rezoluciji, zajedno sa spektroskopskim podacima i difrakcionim obrascima za sub-nanometarske regione. TEM je nezamenljiv instrument u nauci o materijalima, a sa razvojem krio-TEM, sve je zastupljeniji i u biološkim i medicinskim istraživanjima.

SEM - Skenirajuća elektronska mikroskopija

Od prvog pojavljivanja elektronskih mikroskopa 1930-ih, skenirajuća elektronska mikroskopija (SEM) postaje nezamenljiva u brojnim različitim poljima istraživanja, obuhvatajući oblasti od nauke o materijalima, forenzike, industrijske proi...

Pročitajte više

Desktop SEM - Desktop skenirajuća elektronska mikroskopija

Od prvog pojavljivanja elektronskih mikroskopa 1930-ih, skenirajuća elektronska mikroskopija (SEM) postaje nezamenljiva u brojnim različitim poljima istraživanja, obuhvatajući oblasti od nauke o materijalima, forenzike, industrijske proi...

Pročitajte više

TEM - Transmisiona elektronska mikroskopija

Transmisiona elektronska mikroskopija (TEM) je tehnika snimanja visoke rezolucije u kojoj se slika stvara kada snop elektrona prolazi kroz tanki sloj uzorka. Na snop elektrona utiče debljina/gustina uzorka, njegov sastav, a u nekim sluča...

Pročitajte više

DualBeam instrumenti

DualBeam instrumenti su skenirajući elektronski mikroskopi sa fokusiranim jonskim snopom (FIB-SEM) koji otkrivaju strukturne i kompozicione informacije na nanometarskom nivou, kombinovanjem precizne modifikacije uzorka FIB-om sa snimanje...

Pročitajte više

EFA sistemi

Smanjivanje komponenata, novi materijali i kompleksnija struktura čine defekte sve učestalijim - naročito kada je dizajn električnih kola posebno osjetljiv na varijacije procesa. Ovi defekti koji nisu vidljivi otkrivaju se kao električni...

Pročitajte više

Sistemi za modifikovanje strujnih kola

Tehnologija za modifikovanja strujnih kola (Circuit edit technology) omogućava brzo modelovanje za male ispravke dizajna u različitim tačkama procesa proizvodnje integrisanih kola (IC). Modifikovanje se može vršiti: nakon prve greške sa ...

Pročitajte više

MicroCT

Mikro-kompjuterska tomografija (microCT) postala je standardna metoda za istraživanje u nauci o materijalima jer omogućava da se naprave efikasne kvantitativne 3D slike gotovo svakog uzorka. Ispitivanje se vrši nedestruktivnim rendgenski...

Pročitajte više

Vitrifikacija uzoraka u elektronskoj mikoskopiji

Vitrifikacija formira amorfnu ​​čvrstu supstancu koja malo ili nimalo ne oštećuje strukturu uzorka. Priprema ovom tehnikom je od krucijalnog značaja za istraživanje ćelijske i strukturne biologije, gde se uzorci hlade tako brzo da mole...

Pročitajte više

Detektori za elektronsku mikroskopiju

Thermo Scientific Pathfinder rendgenska mikroanaliza kod skenirajućeg elektronskog mikroskopa (SEM) sa energetsko disperzivnim spektrometrom (EDS) i skenirajućeg elektronskog mikroskopa (SEM) sa talasno disperzivnim spektrometrom (WDS) s...

Pročitajte više

Aplikacije u elektronskoj mikroskopiji

Elektronski mikroskopi koriste snop ubrzanih elektrona za generisanje slike, pri čemu elektroni koji se koriste imaju značajno manju talasnu dužinu od vidljive i UV svetlosti koja se koristi kod optičkih svetlosnih mikroskopa. ...
Pročitajte više

FAQ: Elektronska mikroskopija

Princip rada skenirajućeg elektronskog mikroskopa i transmisionog elektronskog mikroskopa.

Kod obe tehnike koristimo elektrone da dobijemo sliku uzorka. SEM koristi skup specifičnih kalemova da skenira snop elektrona po površini uzorka i prikuplja rasejane elektrone, pružajući informacije o površini i sastavu. TEM koristi transmisione elektrone koji prolaze kroz uzorak, nudeći informacije o unutrašnjoj strukturi kao što su kristalna struktura i morfologija. Rezolucija SEM-a je limitirana na ~0.5 nm, dok aberaciono-korigovani TEMovi postižu ispod 50 pm.

Koja tehnika elektronske mikroskopije je najbolja za analizu?

Odgovor zavisi od tipa uzorka i analize. Za informacije o površini uzorka (hrapavost, detekcija kontaminacija) biramo SEM. Za kristalnu strukturu, moguće defekte u strukturi ili nečistoće, TEM je jedini način.

Smanjenje proizvodnih rizika kroz robustnu kontrolu kvaliteta - Korišćenje SEM za određivanje kvaliteta konverzijskih prevlaka.

Procena kvaliteta prevlaka zahteva detaljnu morfološku analizu. SEM koristi detektor povratno rasejanih elektrona (BSE) za snimanje slika visokog uvećanja i kontrasta koje tačno pokazuju gde je prevlaka nanesena ili gde nije. Oblasti bez prevlake čak i veličine nekoliko mikrometara mogu postati početne tačke korozije.

Koje vrste informacija možemo prikupiti u SEM-u?

U slučaju SEM-a, obično se detektuju tri vrste signala: povratno rasejani elektroni (BSE), sekundarni elektroni (SE) i karakteristično rendgensko zračenje (EDS). Svaki signal nosi različite korisne informacije o uzorku.

Koje su razlike između povratno rasejanih i sekundarnih elektrona?

BSE se reflektuju nazad nakon elastičnih interakcija i potiču dublje iz uzorka – pokazuju visoku osetljivost na razlike u atomskom broju. SE potiču od atoma uzorka kroz neelastične interakcije i potiču iz površinskog regiona, pružajući detaljne informacije o topografiji površine.

Koje su prednosti SEM-EDS analize korišćenjem ChemiSEM?

ChemiSEM tehnologija omogućava potpunu kontrolu nad svim SEM i EDS funkcijama u jednom interfejsu. Uvek je uključen i kontinuirano prikuplja EDS signal tokom rada sa SEM-om. Omogućava brži pristup elementnim informacijama zahvaljujući pristupu baziranom na mašinskom učenju, tačna merenja pri širokom opsegu podešavanja mikroskopa i lako rukovanje za sve operatere.

Šta je ChemiPhase?

ChemiPhase je nova funkcionalnost ChemiSEM koja omogućava analizu faza u regiji od interesa koristeći statistički pristup analize velike količine podataka, u cilju detekcije svih statistički značajnih spektara. Otkrivanje i karakterizacija različitih faza je sada veoma olakšana i intuitivna, bez pogrešnih rezultata zbog preklapanja spektralnih maksimuma ili nedovoljnog intenziteta.