EFA sistemi

Smanjivanje komponenata, novi materijali i kompleksnija struktura čine defekte sve učestalijim - naročito kada je dizajn električnih kola posebno osjetljiv na varijacije procesa. Ovi defekti koji nisu vidljivi otkrivaju se kao električni kvarovi koji umanjuju performanse uređaja, umanjuju pouzdanost i uništavaju prinos proizvodnje. Štaviše, oni postaju još složeniji kada se jave kvarovi u fazi pakovanja uređaja. Velika gustina spojeva, višeslojnost ploča, fleksibilna elektronika i integrisane štampane ploče znače da defekti koji izazivaju kvarove imaju više mesta za skrivanje, čineći karakterizaciju mnogo težom. Nova generacija Thermo Scientific proizvoda fokusirana je na napredne analitičke sposobnosti za analizu kvarova i kontrolu procesa. Dizajnirani su da poboljšaju kontrolu kvaliteta i proizvodni prinos 3D NAND-a, DRAM-a, logičkih, analognih i uređaja za prikaz, a time i povećaju produktivnost u poluprovodničkim fabrikama i laboratorijama.

Meridian IV sistem

Thermo Scientific Meridian IV System je najbolji izbor za istraživanje i razvoj naprednih, niskonaponskih poluprovodničkih uređaja visoke gustine, gde je potreban instrument sa sposobnostima i performansama za dijagnostikovanje...
Pročitajte više

Meridian 7 sistem

Thermo Scientific Meridian 7 System omogućava lasersko (iz opsega vidljive svetlosti) naponsko snimanje (LVI) i sondiranje (LVP), kao i dinamičku lasersku stimulaciju (DLS/LADA) na komponentama sa nodom ispod 10 nm. On čuva in...
Pročitajte više

Meridian WS-DP sistem

Thermo Scientific Meridian VS-DP System omogućava brzu lokalizaciju defekata korišćenjem testera u proizvodnji, ploča za testiranje i kartica sa sondama. S obzirom na to da je prinos proizvodnje ključan za profitabilnost, fab...
Pročitajte više

Meridian S sistem

Thermo Scientific Meridian S System je dizajniran za izvođenje invertne emisije fotona (EMMI) i analizu laserskom skenirajućom mikroskopijom stimulisanu statičkom razlikom potencijalapreko kartice ili mikro sondi. Troškovi vlas...
Pročitajte više

nProber IV sistem

Thermo Scientific nProber IV System je platforma zasnovana na skenirajućoj elektronskoj mikroskopiji (SEM) visokih performansi za lokalizaciju defekata na tranzistorima i metalizaciji. To je do sada najnapredniji sistem za nan...
Pročitajte više

Hyperion II sistem

Thermo Scientific Hyperion II sistem omogućava brzo i precizno kačenje sondi na tranzistore zbog električne karakterizacije i lokalizacije kvarova u razvoju tehnologije poluprovodnika, poboljšanju prinosa proizvodnje i poboljša...
Pročitajte više

ELITE sistem

Brzi razvoj naprednih aplikacija za pakovanje, sve složenije međusobno povezivanje i napojni uređaji sa visokim performansama stvorili su izazove za lokalizaciju i analizu kvarova. Poluvodički uređaji koji su u kvaru ili sa loš...
Pročitajte više