DualBeam instrumenti

DualBeam instrumenti su skenirajući elektronski mikroskopi sa fokusiranim jonskim snopom (FIB-SEM) koji otkrivaju strukturne i kompozicione informacije na nanometarskom nivou, kombinovanjem precizne modifikacije uzorka FIB-om sa snimanjem SEM-om visoke rezolucije. Ova tehnika pruža mogućnost naučnicima i inženjerima u akademskim krugovima i u industriji da se suoče sa stalnim izazovima koji zahtevaju karakterizaciju širokog spektra uzoraka i materijala sa lokalizovanog dela uzorka, a uz to i poboljšanje kvaliteta materijala od interesa. Thermo Fisher Scientific kao lider u industriji FIB-SEM tehnologije, sa više od 25 godina iskustva sa DualBeam instrumentima, nudi širok portfolio sistema sa mogućnošću automatizacije za široki spektar aplikacija: pripremu uzoraka za transmisioni elektronski mikroskop (TEM), 3D karakterizacija i karakterizacija uzorka ispod površine, pravljenje prototipova na nano nivou, in situ eksperimene itd.