AAS - Atomska apsorpciona spektrometrija
Jednostavno merenje elemenata u širokom spektru uzoraka omogućeno je pomoću iCE 3000 serije AAS. Plameni raspršivač idealan je za merenje uzoraka visoke koncentracije, dok se sa grafitnom peći postiže detekcioni limit i do sub ppb. ...
Pročitajte više
OES - Optička emisiona spektrometrija
Optičko -emisiona spektrometrija (OES) sa pobudom luk/varnica omogućava brzu elementarnu analizu čvrstih metalnih uzoraka. Ova tehnika zadovoljava najzahtevnije potrebe analize metaloprerađivačke industrije, u rasponu od kontrole proizvo...
Pročitajte više
ICP-OES - Spektrometrija sa indukovano-spregnutom plazmom
Thermo Scientific ICP OES serije iCAP PRO odlikuju se velikim mogućnostima i fleksibilnošću, i na taj način omogućava da svaka laboratorija bude spremna za sve nove izazove. Serijom iCAP PRO se brzo i jednostavno dobijaju ponovljivi i po...
Pročitajte više
ICP-MS - Masena spektrometrija sa indukovano-spregnutom plazmom
Inovativna ICP-MS rešenja kompanije Thermo Scientific osmišljena su da zadovolje potrebe bilo koje laboratorije, od visoko propusnih i rutisnkih do najsavremenijih istraživačkih objekata. Sa naprednim performansama za pouzdano i precizno...
Pročitajte više
OEA - Organska elementalna analiza
Serija fleksibilnih organskih elementalnih analizatora (OEA) sa širokim opsegom različitih konfiguracija omogućava jednostavnost, preciznost i isplativost u kvantifikaciji ugljenika, vodonika, azota, sumpora i kiseonika (CHNS/O). Pružaju...
Pročitajte više
GD-MS - Masena spektrometrija sa užarenim pražnjenjem
Maseni spektrometar sa užarenim pražnjenjem (GD-MS) vrhunski je alat za direktnu analizu čvrstih materijala visoke čistoće, kao i poluprovodnika i keramičkih prahova kao što su Al2O3 ili SiC. Primene dubinskog profilisanja se kreću od ...
Pročitajte više
XRF - Rendgenska fluorescentna spektrometrija
Postignite brzu karakterizaciju i analizu materijala kako biste bili sigurni da su ispunjene hemijske specifikacije proizvoda. Rendgenska fluorescentna tehnologija (XRF) je zlatni standard za tačnu, nedestruktivnu analizu elemenata u šir...
Pročitajte više
XRD - Rendgenska difraktometrija
Rendgenska difrakcija (XRD) je kompletna nedestruktivna analitička tehnika koja omogućava brzo dobijanje detaljne informacije o fazama i strukturi kristalnih materijala. XRD analiza daje rezultate visokih performansi u širokom spektru ...
Pročitajte više
XPS - Rendgenska fotoelektronska spektrometrija X-zracima
XPS spektrometri imaju namenu za naprednu površinsku analizu materijala. Povećana potražnja za visokoučinkovitim i složenijim materijalima, povećava i značaj površinskog inžinjeringa. Kako je površina materijala tačka interakcije sa spol...
Pročitajte više
Softveri za elementalnu analizu
Intuitivan softver prilagođen korisniku, dizajniran da pojednostavi radne tokove i maksimizira efikasnost - uobičajeno softversko rešenje koje omogućava laku rotaciju/izmenu laboratorijskih tehničara.
Pročitajte više
Oprema za pripremu uzoraka u elementalnoj analizi
Neophodno je da uzorak bude reprezentativan, homogen i pogodan za analitičku metodu od interesa. Adekvatna priprema uzorka rezultuje većom tačnošću i preciznošču, kraćom analizom i nižim troškovima. Stoga, ona predstavlja ključan korak u...
Pročitajte više
Aplikacije u elementalnoj analizi
