Postali smo autorizovani zastupnici za firmu FEI Europe B.V. za teritoriju Srbije, Crne Gore, Makedonije, BiH i Albanije, koja je renomirani proizvođač za:
- SEM – skenirajuće elektronske mikroskope, koji se koriste za ispitivanje topografije materijala, uz rezolucije koje idu čak do subnanometarskih.
- TEM – transmisione elektronske mikroskope, koji su vodeći proizvod na tržištu, sa integrisanom automatskom operacionom procedurom za širok opseg aplikacija, koje zahtevaju ultra visoku rezoluciju – na angstremskom nivou.
- FIB – koji otkriva defekte ispod površine kod materijala i uređaja. Sistemi sa fokusiranim jonskim snopom (focused ion beam – FIB) imaju viok stepen analogije sa sistemima sa fokusiranim elektronskim snopom, poput SEM.
- DualBeam (FIB/SEM) sistemi su odličan izbor za 3D mikroskopiju i karakterizaciju materijala, analizu grešaka nastalih pri industrijskoj proizvodnji i aplikacije u kontroli procesa.
