Thermo Scientific™ Lumis™ detektor difrakcije povratno rasejanih elektrona (EBSD) uključuje CMOS senzor nove tehnologije i naprednu optiku, koja je iskorišćena sa softverom za mikroanalizu Thermo Scientific™ Pathfinder™ 2.0. Ovaj softver uključuje nove algoritme indeksiranja za analizu obrazaca difrakcije povratno rasejanih elektrona (EBSP). EBSD tehnologijom, dizajniranom za maksimalnu propustljivost i visoku rezoluciju, brzo identifikujte kristalografske faze, veličine zrna i orijentaciju, i pratite strukturne transformacije u uzorcima skenirajućeg elektronskog mikroskopa (SEM).
