XPS - Rendgenska fotoelektronska spektrometrija X-zracima

XPS spektrometri imaju namenu za naprednu površinsku analizu materijala. Povećana potražnja za visokoučinkovitim i složenijim materijalima, povećava i značaj površinskog inžinjeringa. Kako je površina materijala tačka interakcije sa spoljašnjim okruženjem i drugim materijalima, mnogi problemi povezani sa savremenim materijalima se mogu rešiti samo razumevanjem fizičkih i hemijskih interakcija koje nastaju na njegovoj površini ili na granicama njenih slojeva. Površina utiče na faktore kao što su brzina korozije, katalitička aktivnost, adhezivna svojstva , vlažnost, kontaktni potencijal i mehanizmi grešaka - da navedemo samo neke.

ESCALAB Xi+ rendgenski fotoelektronski spektrometar sa mikrosondom

Thermo Scientific ESCALAB Xi+ rendgenski fotoelektronski spektrometar (XPS) sa mikrosondom (eng. Microprobe) kombinuje visoku spektralnu osetljivost i rezoluciju sa kvantitativnim imaging-om visoke rezolucije i mogućnostima viš...
Pročitajte više

Nexsa G2 rendgenski fotoelektronski spektrometar za površinsku analizu

Thermo Scientific Nexsa G2 rendgenski fotoelektronski spektrometar (XPS) nudi potpuno automatizovanu površinsku analizu , dajući podatke za unapređivanje istraživanja i razvoja kao i za rešavanje proizvodnih problema. Integraci...
Pročitajte više

K-Alpha fotoelektronski rendgenski spektrometar

Thermo Scientific K-Alpha fotoelektronski rendgenski spektrometar (XPS) uvodi novi pristup u analizi površine. K-Alpha XPS sistem čini rad sa XPS-om jednostavnim i intuitivnim, bez žrtvovanja performansi ili mogućnosti tehnike....
Pročitajte više