Thermo Scientific Nexsa G2 rendgenski fotoelektronski spektrometar (XPS) nudi potpuno automatizovanu površinsku analizu , dajući podatke za unapređivanje istraživanja i razvoja kao i za rešavanje proizvodnih problema. Integracija XPS -a sa spektroskopijom raspršenja jona (ISS), UV fotoelektronskom spektroskopijom (UPS), spektroskopijom gubitka energije reflektovanih elektrona (REELS) i Ramanovom spektroskopijom omogućava sprovođenje prave korelativne analize. Sistem uključuje opcije za zagrevanje uzoraka, kao i mogućnosti prilagođavanja uzorka kako bi se povećao raspon mogućih eksperimenata. Nexsa G2 sistem za analizu površine otvara potencijal za napredak u nauci o materijalima, mikroelektronici, razvoju nanotehnologije i mnogim drugim aplikacijama.
Početna
Proizvodi
Analitička oprema
Elementalna analiza
XPS - Rendgenska fotoelektronska spektrometrija X-zracima
Nexsa G2 rendgenski fotoelektronski spektrometar za površinsku analizu
