Napredni procesi proizvodnje logičkih kola i memorija sve se više oslanjaju na visok prinos preciznih strukturnih i analitičkih podataka. Ovi procesi zahtevaju brzu reakciju kontrole kvaliteta u cilju kalibracije kompleta alata, dijagnostikovanja problema u proizvodnji i povećanja prinosa proizvodnog procesa. Kod tehnologije node (najsitniji delovi kola između dva elementa) ispod 28 nm, posebno u slučajevima u kojima je implementiran 3D i napredni dizajn uređaja, konvencionalni skenirajući elektronski mikroskop (SEM) ili optički alati za analizu i inspekciju nailaze na izazove koji ograničavaju njihovu sposobnost pružanja robusnih i pouzdanih podataka. Thermo Scientific Metrios AX transmisioni elektronski mikroskop (TEM) pruža brzu i preciznu karakterizaciju i referentnu metrologiju, potrebne proizvođačima poluprovodnika u cilju razvoja i kontrole procesa proizvodnje vafera i posledičnog povećanja prinosa proizvodnje.
