Thermo Scientific Scios 2 DualBeam (FIB-SEM) je skenirajući elektronski mikroskop (SEM) sa kolonom fokusiranog jonskog snopa (FIB) ultra visoke rezolucije, koji omogućava izvanrednu pripremu uzorka i pruža performanse 3D karakterizacije za širok spektar uzoraka (uključujući magnetne i neprovodne materijale). Sa inovativnim funkcijama koje su dizajnirane da povećaju produktivnost, preciznost i jednostavnost upotrebe, Scios 2 DualBeam je idealno rešenje za naučnike i inženjere u naprednim istraživanjima i analizama – u akademskim, državnim i industrijskim istraživačkim laboratorijama.
Korisni linkovi:
