Thermo Scientific Helios 5 DualBeam je skenirajući elektronski mikroskop sa plazma fokusiranim jonskim snopom (PFIB-SEM) koji pruža neprevaziđene mogućnosti za nauku o materijalima, kao i za aplikacije kod poluprovodnika. Helios 5 PFIB DualBeam pruža 3D karakterizaciju velikih zapremina, pripremu uzoraka bez galijuma i preciznu mikro-obradu za istraživače koji se bave materijalima. Takođe omoguáva pronalaženje defekata preciznim skidanjem slojeva sa velikih površina bez oštećenja, brzu pripremu uzorka, kao i pronalaženje defekata sa visokom pouzdanošću proizvođačima poluprovodničkih komponenti, integrisanih i uređaja za prikazivanje (display).
Korisni linkovi:
Specifikacija: Helios 5 PFIB CXe DualBeam (materials science research)
Specifikacija: Helios 5 PFIB UXe DualBeam (materials science research)
Specifikacija: Helios 5 PFIB CXe DualBeam (semiconductor analysis)
Specifikacija: Helios 5 PFIB UXe DualBeam (semiconductor analysis)
Specifikacija: Helios 5 PFIB HXe DualBeam (semiconductor analysis)
