Elektronski mikroskopi koriste snop ubrzanih elektrona za generisanje slike, pri čemu elektroni koji se koriste imaju značajno manju talasnu dužinu od vidljive i UV svetlosti koja se koristi kod optičkih svetlosnih mikroskopa. Sama priroda elektrona omogućava veće uveličanje i bolju rezoluciju. Elektronski mikroskopi se dele na dve osnovne kategorije: transmisione elektronske mikroskope (TEM) i skenirajuće elektronske mikroskope (SEM). Zahvaljujući svojoj moćnoj rezoluciji i mogućnosti uveličanja, elektronski mikroskopi našli su primenu u karakterizaciji materijala, proizvodnji poluprovodnika, biološkim i medicinskim istraživanjima.
– Različite tehnike elektronske mikroskopije koje se koriste u karakterizaciji materijala oprobane su i dokazane u različitim poljima istraživanja materijala kao što su istraživanje baterija, polimera, katalizatora, nanočestica, vlakana i filtera, 2D materijala, geoloških istraživanja, u forenzici, testiranju u auto industriji, istraživanjima vezanim za naftu i gas, fundamentalnom istraživanju metala, kontroli kvaliteta i analizi kvarova.
– Metode elektronske mikroskopije u biološkim i medicinskim istraživanjima, uključujući analizu velikih tkivnih uzoraka, tehnike krio-elektronske mikroskopije (krio-EM), kriotomografije i analize pojedinačnih čestica, našle su svoju primenu u istraživanjima strukturne biologije, zaraznih bolesti, otkrivanju lekova, istraživanju biologije biljaka, patologiji i istraživanju raka.
– Konstantno unapređivanje performansi i energetske efikasnosti poluprovodničkih i mikroelektronskih uređaja vrši se pomoću elektronskih mikroskopa koji omogućavaju razvoj poluprovodnika i unapređenje proizvodnog procesa, povećanje prinosa i metrologiju, analizu kvara, fizičku i hemijsku karakterizaciju, indentifikaciju osetljivosti na elektrostatički proboj i analizu poluprovodničkih elemenata visoke snage.
Aplikacije u elektronskoj mikroskopiji
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/AN0169_featured.jpg)
TEM: TEM kod mekih materijala osetljivih na snop i niskog kontrasta
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/crystal_pack-1.jpg)
TEM: CrystalPack Module
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/iDPC_featured.jpg)
TEM: Integrisani diferencijalni fazni kontrast
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/Environmental-Transmission-Electron-Microscopy-ETEM_featured.jpg)
ETEM: Transmisioni Elektronski Mikroskop sa varijabilnim pritiskom
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/Environmental-TEM-Dynamic-In-Situ-Studies_featured.jpg)
ETEM: Kod dinamičkih in situ studije nano-strukturiranih materijala na atomskoj skali
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/Atomic-Scale-Structure-Article_fetured.jpg)
ETEM: Odnos struktura-funkcija heterogenih katalizatora na atomskoj skali
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/fringe-free-imaging-an016_featured.jpg)
TEM: Slika bez obrisa po rubovima
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/fib-tem-sample-preparation-in-situ-heating-tem-application-note_featured.jpg)
DBeam: FIB priprema TEM uzorka za in situ zagrevanje u TEM-u
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/Cryo-FIB-thinning-protein-microcrystals-MicroED-AN0103-1.jpg)
DBeam: Crio-FIB stanjivanje proteinskih mikrokristala
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/spin-mill-method-an0174-1.jpg)
DBeam: Spin Mill metoda za FIB primenu kod velikih površina
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/spinmill-appnote-an0157-1.jpg)
DBeam: Automatizovana priprema uzoraka velike površine za baterije
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/helios-hydra-appnote-AN0106-1.jpg)
DBeam: Uticaj tipa jona na kvalitet FIB pripreme uzorka
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/helios-5-hydra-dualbeam-samples-an0163-1.jpg)
DBeam: Kompatibilnost uzoraka sa Helios 5 Hydra DualBeam sistemom
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/ESEM-hydrated-samples-1.jpg)
SEM: Ispitivanje potpuno hidratizovanoh uzoraka korišćenjem ESEM
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/axia-chemisem-workflow-an0172-1.jpg)
SEM: ChemiSEM za Geohronološke studije
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/axia-thermal-barrier-coating-appnote-an0175-1.jpg)
SEM: Mikrostrukturna i hemijska procena prevlake sa termičkom barijerom
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/AN0170-characterization-refractories-steel-production-axia-chemisem-1.jpg)
SEM: Karakterizacija složenih vatrostalnih materijala za proizvodnju čelika
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/axia-fa-corroded-steel-an0165-1.jpg)
SEM: Analiza korodirane čelične površine
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/axia-chemisem-malachite-an0158-1.jpg)
SEM: Karakterizacija malahita SEM-om
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/axia-chemisem-tires-fillers-an0159-1.jpg)
SEM: Karakterizacija punioca za gume
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/axia-chemisem-batteries-an0160-1.jpg)
SEM: Procena kontaminanata u materijalu za baterije
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/axia-bend-failure-mech-an164-1.jpg)
SEM: Otkrivanje razloga pucanja čelika prilikom testa krivljenja
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/colorsem-polymer-appnote-an0152-1.jpg)
SEM: Karakterizacija polimera ojačanih staklenim vlakanima
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/colorsem-steel-application-note-1.jpg)
SEM: Karakterizacija kompleksnih inkluzija u čeliku
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/Information-From-Every-Angle-Application-Note-1.jpg)
SEM: Informacije iz svakog ugla
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/Extreme-High-Resolution-ElectronMicroscopy-1.jpg)
SEM: Elektronski mikroskop ekstremno visoke rezolucije
![](https://analysis.rs/wp-content/uploads/2022/01/Imaging-Magnetic-Materials-Application-Note-1.jpg)
SEM: Magnetični materijali pomoću SEM-a