Elektronski mikroskopi koriste snop ubrzanih elektrona za generisanje slike, pri čemu elektroni koji se koriste imaju značajno manju talasnu dužinu od vidljive i UV svetlosti koja se koristi kod optičkih svetlosnih mikroskopa. Sama priroda elektrona omogućava veće uveličanje i bolju rezoluciju. Elektronski mikroskopi se dele na dve osnovne kategorije: transmisione elektronske mikroskope (TEM) i skenirajuće elektronske mikroskope (SEM). Zahvaljujući svojoj moćnoj rezoluciji i mogućnosti uveličanja, elektronski mikroskopi našli su primenu u karakterizaciji materijala, proizvodnji poluprovodnika, biološkim i medicinskim istraživanjima.
– Različite tehnike elektronske mikroskopije koje se koriste u karakterizaciji materijala oprobane su i dokazane u različitim poljima istraživanja materijala kao što su istraživanje baterija, polimera, katalizatora, nanočestica, vlakana i filtera, 2D materijala, geoloških istraživanja, u forenzici, testiranju u auto industriji, istraživanjima vezanim za naftu i gas, fundamentalnom istraživanju metala, kontroli kvaliteta i analizi kvarova.
– Metode elektronske mikroskopije u biološkim i medicinskim istraživanjima, uključujući analizu velikih tkivnih uzoraka, tehnike krio-elektronske mikroskopije (krio-EM), kriotomografije i analize pojedinačnih čestica, našle su svoju primenu u istraživanjima strukturne biologije, zaraznih bolesti, otkrivanju lekova, istraživanju biologije biljaka, patologiji i istraživanju raka.
– Konstantno unapređivanje performansi i energetske efikasnosti poluprovodničkih i mikroelektronskih uređaja vrši se pomoću elektronskih mikroskopa koji omogućavaju razvoj poluprovodnika i unapređenje proizvodnog procesa, povećanje prinosa i metrologiju, analizu kvara, fizičku i hemijsku karakterizaciju, indentifikaciju osetljivosti na elektrostatički proboj i analizu poluprovodničkih elemenata visoke snage.
Aplikacije u elektronskoj mikroskopiji
TEM: TEM kod mekih materijala osetljivih na snop i niskog kontrasta
TEM: CrystalPack Module
TEM: Integrisani diferencijalni fazni kontrast
ETEM: Transmisioni Elektronski Mikroskop sa varijabilnim pritiskom
ETEM: Kod dinamičkih in situ studije nano-strukturiranih materijala na atomskoj skali
ETEM: Odnos struktura-funkcija heterogenih katalizatora na atomskoj skali
TEM: Slika bez obrisa po rubovima
DBeam: FIB priprema TEM uzorka za in situ zagrevanje u TEM-u
DBeam: Crio-FIB stanjivanje proteinskih mikrokristala
DBeam: Spin Mill metoda za FIB primenu kod velikih površina
DBeam: Automatizovana priprema uzoraka velike površine za baterije
DBeam: Uticaj tipa jona na kvalitet FIB pripreme uzorka
DBeam: Kompatibilnost uzoraka sa Helios 5 Hydra DualBeam sistemom
SEM: Ispitivanje potpuno hidratizovanoh uzoraka korišćenjem ESEM
SEM: ChemiSEM za Geohronološke studije
SEM: Mikrostrukturna i hemijska procena prevlake sa termičkom barijerom
SEM: Karakterizacija složenih vatrostalnih materijala za proizvodnju čelika
SEM: Analiza korodirane čelične površine
SEM: Karakterizacija malahita SEM-om
SEM: Karakterizacija punioca za gume
SEM: Procena kontaminanata u materijalu za baterije
SEM: Otkrivanje razloga pucanja čelika prilikom testa krivljenja
SEM: Karakterizacija polimera ojačanih staklenim vlakanima
SEM: Karakterizacija kompleksnih inkluzija u čeliku
SEM: Informacije iz svakog ugla
SEM: Elektronski mikroskop ekstremno visoke rezolucije
SEM: Magnetični materijali pomoću SEM-a
